TÉCNICAS
La microscopía electrónica de barrido y de transmisión es utilizada como una de las técnicas más versátiles en el estudio y análisis de las características microestructurales de objetos sólidos.
La técnica consiste en hacer incidir un haz de electrones sobre la muestra, lo que genera la aparición de diferentes tipos de señales que, captadas con detectores adecuados, nos proporcionan diferente tipo de información sobre la muestra
APLICACIONES
Microscopía Electrónica de Barrido:
- Imágenes de alta resolución.
Nuestros microscopios están equipados con diferentes sistemas de detección (electrones secundarios y retrodispersados), proporcionando imágenes con resolución nanométrica. El microscopio Hitachi S4800 dispone además de un detector de electrones transmitidos.
- Microanálisis químico (EDX).
Ambos microscopios electrónicos de barrido están equipados con un detector de EDX (Energía Dispersiva de Rayos X), lo que les convierte en una poderosa herramienta analítica. Es posible hacer análisis puntuales, perfiles lineales o mapeos de las muestras, y obtener así información composicional de las mismas.
- Nanolitografías mediante haz de iones focalizados (FIB).
El microscopio QUANTA 3D FEG utiliza un haz de iones de galio para realizar tanto grabados como depósitos localizados en la superficie de los materiales. Es posible visualizar y controlar in situ los procesos que se realizan gracias al doble haz (sistema Dual Beam), que combina el haz de iones con un haz de electrones.
- Estudio de estructura interna de materiales.
Combinando el haz de electrones y el de iones en el QUANTA 3D FEG se pueden realizar cortes en las muestras y visionar la sección transversal, revelándose así la estructura interna.
- Preparación de lamelas para TEM utilizando FIB y el manipulador Omniprobe
Utilizando el haz de iones como herramienta de corte y el manipulador Omniprobe, es posible preparar lamelas de materiales de grosores nanométricos para su posterior visualización en el microscopio electrónico de transmisión.
- Visualización de muestras en modo Ambiental.
Trabajando en modo “ambiental” o “bajo vacío” en el microscopio QUANTA 3D FEG es posible visualizar muestras no conductoras sin necesidad de realizar una previa deshidratación y metalizado. Es por tanto un equipo ideal para muestras biológicas.
- Experimentos dinámicos in situ.
Con el equipo QUANTA 3D FEG podemos observar in situ procesos dinámicos a nanoescala controlando las condiciones de temperatura y humedad. Para ello dispone de una pletina de calentamiento hasta 1100ºC, y una celda Peltier con refrigeración que permite alcanzar una humedad de hasta el 100%. Así mismo es posible la grabación de video formato .avi.
Debido al alto rendimiento de estos equipos y a sus accesorios, es posible el desarrollo continuo de múltiples y muy diversas aplicaciones. No duden en contactar con el servicio para sugerir y plantear necesidades específicas.
Microscopía Electrónica Transmisión:
- Imágenes de alta resolución
- Microanálisis de Energía Dispersiva de Rayos X (EDX)
- Caracterización estructural por difracción de electrones.
El patrón de difracción de electrones que se forma en el plano focal posterior del microscopio se proyecta al dispositivo de visionado, proporcionando así información sobre la red cristalina.
EQUIPAMIENTO
Microscopios Electrónicos de Barrido:
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| Microscopio Electrónico de Barrido de Emisión de Campo HITACHI S-4800. | Sistema Dual de Microscopía Ambiental y nanolitografía por haz de iones focalizados (ESEM-FIB) QUANTA 3D FEG de FEI Company. |
Microscopio Electrónico de Transmisión:
TEM TECNAI G2 20 Twin
Equipos para la preparación de muestras:
- Metalizador Emitech K575X.
- Evaporador de carbono Emitech CA7625.
- Desecador por punto crítico Emitech K850.
- Ultramicrotomo Leica EM EC6.
- Cortadora de disco de diamante ALLIED modelo TECHCUT4
- Pulidora ALLIED modelo M-PREP5
- Cortadora por ultrasonidos Fischione 170.
- Dimpling Grider Fischione 200.
- Adelgazador iónico 1050 TEM MILL de Fischione.
PERSONAL
María Carbajo Sánchez - Ext. Tlf.: 86141 - 924289300 - mcarbajo@unex.es